Journals →  Цветные металлы →  2011 →  #8-9 →  Back

Тяжелые цветные металлы
ArticleName Опыт применения методов растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа для исследования материалов цветной металлургии
ArticleAuthor Ерцева Л. Н.
ArticleAuthorData Л. Н. Ерцева, гл. науч. сотр., лаб. пирометаллургии, ООО «Институт Гипроникель».
Abstract

В середине прошлого века производимое оборудование можно было условно разделить на две группы — растровые электронные микроскопы и микроанализаторы, отличающиеся своими техническими характеристиками и предназначенные для решения разных задач. Соответственно и два метода — электронная микроскопия и микроанализ, несмотря на общие физические корни, развивались параллельно. В период 1970–1980-х гг. произошли два серьезных изменения — во-первых, появились автоматизированные приборы, использующие для обработки результатов специальное программное обеспечение, дифференцированное для разных областей исследования. Во-вторых, в связи с повышением качества полупроводниковых детекторов классические микроанализаторы начали вытесняться комплексами микроскоп плюс система микроанализа, широко используемыми и сегодня. В статье в краткой форме рассмотрены теоретические основы методов растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа. Описаны этапы использования оборудования, применяемого в институте «Гипроникель» с 1969 г., рассмотрены особенности исследований с применением детекторов с дисперсией по длине волны и с дисперсией по энергии. Приведены примеры выполненных методических разработок при адаптации конкретных типов оборудования для решения теоретических и практических задач цветной металлургии.

keywords Растровая электронная микроскопия, рентгеноспектральный микроанализ, материалы цветной металлургии, методы, особенности, разработки, приборы.
Language of full-text russian
Full content Buy
Back