Национальный исследовательский университет МИЭТ

К. С. Максимов, С. К. Максимов

Применение продуктов нанотехнологий требует идентификации их структуры и габитуса. Продемонстрированы особенности электронограмм, которые могут вызывать затруднения при идентификации атомарной структуры нанообъектов с дефектной структурой, включающей двойники и антифазные границы. Описаны методы идентификации морфологии наночастиц с помощью растровой электронной микроскопии, основанные на применении освещающих пучков с разными углами сходимости, и отмечены затруднения, присущие этим методам.

1. Nanotoxicology. Characterization, dosing and health effects / Eds. by N. Montairo−Riviere. − N. Y. : Informa Healthcare USA, 2007. − 450 p.
2. Nanotechnology: Consequences for human health and environment / Eds. by R. E. Hester, R. M. Harrison. − Cambride (UK) : RSC Publishing, 2007. − 149 p.
3. Barnard, A. S. Modelling of nanoparticles: approaches to morphology and evolution / A. S. Barnard // Rep. on progress in phys. − 2010. − V. 73, N 8. − P. 86502—86553.
4. Максимов, С. К. Контроль поверхностной функциональности наноматериалов / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Российские нанотехнологии. − 2009. − Т. 4, № 3−4. − С. 59—70.
5. Максимов, С. К. Принципы стандарта безопасности и производственного контроля в производстве наноразмерных частиц / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Нанотехника. − 2009. − № 18. − С. 5—12.
6. Максимов, С. К. Принципы контроля наноматериалов для разработки стандартов безопасности на примере выявления закономерностей наноструктурирования в системах Ca_yLa_1−yF_3−y и La_xCa_1−xF_2+x / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Письма в ЖТФ. − 2009. − Т. 35, № 5. − С. 58—65.
7. Максимов, С. К. Новый подход в метрологии в нанообласти / С. К. Максимов, К. С Максимов // Письма в ЖТФ. − 2010. − Т. 36, № 20. − С. 21—28.
8. Nanocharacterization / Eds. by J. Hutchison, A. Kirkland. − Cambride (UK) : RSC Publishing, 2007. − 304 p.
9. Rossi, G. Searching for low−energy structures of nanoparticles: a comparison of different methods and algorithms / G. Rossi, R. Ferrando // J. Phys.: Condens. Matter. − 2009. − V. 21, N 8. − P. 84208—84218.
10. Хирт, Дж. Теория дислокаций / Дж. Хирт, М. Лоте. − М. : Атомиздат, 1972. − 589 с.
11. Reder, R. Scattering and defect structure simulations / R. Reder − Oxford (UK) : OUP, 2008. − 239 P.
12. Wang ,Y. Q. Coalescence behavior of gold nanoparticles / Y. Q. Wang, W. S. Liang, C. Y. Geng // Nanoscale Res. Lett. − 2009. − N 4. − P. 684—688.
13. Wittig, J. In−situ Z−STEM imaging of chemical ordering in FePt magnetic nanoparticles / J. Wittig, J. Bentley, L. F. Allard, M. S. Wellons, C. M. Lukehart // Microsc. and Microanal. − 2008. − V. 14, Suppl. 2. − P. 216—217.
14. Yuge, K. Segregation of Pt₂₈Rh₂₇ bimetallic nanoparticles: a first−principles study / K. Yuge // J. Phys.: Condens. Matter. − 2010. − V. 22, N 24. − P. 245401—245406.
15. Максимов, С. К. Механизм структурирования Ca_1−xLa_xF_2+x со структурой на основе CaF₂ / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Неорган. материалы. − 2007. − Т. 43, № 5. − С. 626—631.
16. Хирш, П. Электронная микроскопия тонких кристаллов / П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан. − М. : Мир, 1968. − 574 с.
17. Максимов, К. С. Двумерные дефекты и проблема идентификации структуры наноразмерных частиц / К. С. Максимов // Изв. вузов. Электроника. − 2011. − № 2. − С. 51—59.
18. Максимов, С. К. Псевдодвойникование в La₂CaF₈ и проблема структурной организации нестехиометрических фаз / С. К. Максимов // Доклады РАН. − 2007. − Т. 416, № 1. − С. 43—46.
19. Максимов, С. К. Упорядочение и двойникование в нестехиометрической фазе La_yCa_1−yF_3−y / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Неорган. материалы. − 2008. Т. 44, № 8. − C. 1007—1013.
20. Maximov, B. A. Space group, crystal structure, and twinning of LaF₃ / B. A. Maximov, H. Schulz // Acta cryst. − 1985. − V. B41. − P. 88—91.
21. Бокий, Г. Б. Рентгеноструктурный анализ / Г. Б. Бокий, М. А. Порай−Кошиц. − М. : Изд−во МГУ. 1964. − 489 c.
22. Максимов, С. К. Проблема характеризации структуры нанообъектов: несовместные рефлексы и дифракционное осреднение / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Изв. РАН. Сер. физ. − 2011. − Т. 75, № 9. − С. 1238—1242.
23. Sobolev, B. P. The rare earth trifluorides. 1. The high temperature chemistry of the rare earth trifluorides / B. P. Sobolev. − Barcelona : Institut d’Estudis Catalans, 2000. − 520 p.
24. Liu, W. TEM investigation of non−crystallographic displacements near antiphase domain boundaries in D03 ordered Fe₃Al / W. Liu, A. Gemperle, J. Gemperlova, V. Paidar, E. Nembach // Acta Mater. − 1998. − V. 46, N 17. − P. 6173—6182.
25. Cheng, C.−J. Structural transitions and complex domain structures across a ferroelectric−to−antiferroelectric phase boun dary in epitaxial Sm−doped BiFeO₃ thin films / C.−J. Cheng, D. D. Kan, S.−H. Lim, W. R. McKenzie, P. R. Munroe, L. G. Salamanca−Riba, R. L. Withers, I. Takeuchi, V. Nagarajan // Phys. Rev. B. − 2009. − V. 80, Iss. 1. − P. 014109—014119.
26. Максимов, С. К. Упорядочение и двойникование в нестехиометрической фазе La_yCa_1−yF_3−y / С. К. Максимов, К. С. Максимов //Неорган. материалы. − 2008. − Т. 44, № 8. − С. 1007—1013.
27. Bhushan, B. Scanning probe microscopy — principle of operation and instrumentation. Handbook of nanotechnology / B. Bhushan, O. Marti − Berlin : Springer, 2007. − P. 239—278.
28. Goldstain, J. Scanning electron microscopy and X−ray microanalysis / J. Goldstein, D. E. Newbury, D. C. Joy, C. E. Lyman, P. Echlin, E. Lifshin, L. Sawyer, S. R. Michael. − N. Y. (USA) : Kluwer Acad. / Plenum Publ., 2005. − 690 p.
29. Максимов, С. К. Контроль морфологии нанообъектов и новый путь его осуществления / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Изв. РАН. Сер. физ. − 2011. − Т. 75, № 9. − С. 1242.
30. Кучеренко, А. В. Получение трехмерного изображения с использованием растрового электронного микроскопа / А. В. Кучеренко, С. К Максимов., К. С. Максимов, К. Н. Сухов; Заявка на изобретение по международной системе PCT. № WO 2011/021957 A1.
31. US Pat. 7199365. Electron beam apparatus with aberration corrector / T. Kawasaki, T. Yoshida, Y. Ose, H. Todokoro; 08.09.2005.
32. US Pat. 7442929. Scanning electron microscope / H. Kitsuki, K. Aoki, M. Sato; 28.10. 2008.